スペクトル超解像度

スペクトル超解像度

X線光電子分光(XPS)測定を高速化

測定時間を最大約90%削減
XPSを用いた研究開発を加速

スペクトル超解像(SSR)で
一歩先の分析を

  • 測定データのズレを補正

    測定データの
    ズレを補正し
    解像度を向上

  • フィッティング不要高精度

    フィッティング
    不要高精度に
    ピーク位置を決定

  • 測定点を低減し測定時間の短縮

    測定点を低減し
    測定時間の
    短縮が可能

スペクトル超解像(SSR)で一歩先の分析を

波形データ分析ツール
SSRとは?

スペクトル超解像技術

スペクトル超解像技術によって、分光分析や電気信号などのスペクトルや波形データの測定点間隔(データ解像度)を増加させることが可能です。これにより、スペクトル形状の詳細な観測や、ピーク位置の精密決定ができ、分光分析・電気信号測定の高精度化、高効率化を実現できます。

Technology

非常識的なスペクトル超解像の詳細を説明

コア技術の詳細を説明

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Expansion

応用展開のビジョン

応用展開のビジョン

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About

若手研究者たちのプロフィール

SSR株式会社の概要

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