X線光電子分光(XPS)測定を高速化
測定時間を最大約90%削減 XPSを用いた研究開発を加速
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測定データのズレを補正し 解像度を向上
フィッティング不要高精度にピーク位置を決定
測定点を低減し測定時間の 短縮が可能
スペクトル超解像技術によって、分光分析や電気信号などのスペクトルや波形データの測定点間隔(データ解像度)を増加させることが可能です。これにより、スペクトル形状の詳細な観測や、ピーク位置の精密決定ができ、分光分析・電気信号測定の高精度化、高効率化を実現できます。
コア技術の詳細を説明
応用展開のビジョン
SSR株式会社の概要