【学会発表】応用物理学会 春季学術講演会で「ベイズ超解像を用いたスペクトル超解像によるX線光電子分光（XPS）測定の高速化と、解析ソフトウェア開発」を発表

2026.03.15　お知らせ

弊社CTO・原田（名古屋大学 准教授）が、応用物理学会 春季学術講演会にて、ベイズ超解像を用いたスペクトル超解像によるX線光電子分光（XPS）測定の高速化と、解析ソフトウェア開発について発表します。

発表概要

ベイズ超解像を分光データ解析に応用し、XPS測定の高速化と解析ワークフローの効率化を目指す取り組みについて紹介します。

発表情報

・学会：応用物理学会 春季学術講演会

・日時：2026年3月17日（火）13:30〜

・セッション：合同セッションN「インフォマティクス応用」

・発表タイトル：ベイズ超解像を用いたスペクトル超解像によるX線光電子分光測定の高速化と解析ソフトウェアの開発

・発表者：原田　俊太（弊社CTO／名古屋大学 准教授）

※当日のプログラム詳細・聴講方法等は、学会公式情報をご確認ください。

https://meeting.jsap.or.jp/program

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